紫外檢測(cè)和紅外檢測(cè)是互補(bǔ)而非沖突的兩種技術(shù)。電暈放電是一種發(fā)光的表面局部放電，由于空氣局部的高強(qiáng)度電場(chǎng)而產(chǎn)生電離。該過程產(chǎn)生微小的熱量，通常紅外檢測(cè)難以發(fā)現(xiàn)。紅外檢測(cè)通常是在高阻處產(chǎn)生熱區(qū)。紫外成像儀可以看到的現(xiàn)象紅外成像儀又往往看不到，而紅外成像儀可以看到的現(xiàn)象紫外成像儀往往看不到。

　　紅外光譜，通常是紅外吸收光譜，檢測(cè)的是分子吸收電磁輻射后引起的振動(dòng)能級(jí)躍遷。分子中的特征官能團(tuán)的特征振動(dòng)對(duì)應(yīng)于特定的紅外吸收光譜位置。紅外光譜一般用微米(μm) 或者波數(shù) (cm^-1) 為單位，因而可以用紅外光譜的吸收峰的位置來鑒別待測(cè)分子結(jié)構(gòu)。通常檢測(cè)的是中紅外光譜區(qū)，400 ～ 4000 cm^-1.

　　紫外光譜，一般是紫外-可見吸收光譜，檢測(cè)的是分子吸收電磁輻射后引起的電子態(tài)的躍遷。紫外-可見吸收光譜反映的是分子的電子能級(jí)結(jié)構(gòu)，可以用來判斷分子的共軛性質(zhì) (分子的共軛程度越大，光譜中譜峰會(huì)紅移，也就是往長波方向移動(dòng))。紫外-可見吸收光譜一般用納米(nm)為單位。通常的檢測(cè)范圍200 ～ 900 nm。

　　紫外檢測(cè)的模式是由于電暈一般在正弦波的波峰或波谷產(chǎn)生，且在放電初期總是不連續(xù)、瞬間即逝的。根據(jù)電暈的這個(gè)特性，紫外成像儀有兩種模式供選擇。

　　一種是活動(dòng)模式，實(shí)時(shí)觀察設(shè)備的放電情況，并實(shí)時(shí)顯示一個(gè)與一定區(qū)域內(nèi)紫外線光子總量成比例關(guān)系的數(shù)值，便于定量分析和比較。另一種是集成模式，將一定時(shí)間區(qū)域內(nèi)的紫外線光子顯示并保留在屏幕上，按照先進(jìn)先出(FIFO)和動(dòng)態(tài)平均的算法實(shí)時(shí)更新。該模式下若正確調(diào)節(jié)儀器，可清楚地看到設(shè)備放電區(qū)域的形狀和大小。